LCR阻抗測(cè)試儀的技術(shù)背景描述
發(fā)布時(shí)間:
2020-01
LCR阻抗測(cè)試儀采用的方法有自動(dòng)平衡電橋法、矢量網(wǎng)絡(luò)分析法、I-V法。電橋法測(cè)量精度高,但需要手動(dòng)平衡調(diào)節(jié),其標(biāo)準(zhǔn)電阻需要手動(dòng)換擋,測(cè)量反復(fù)調(diào)節(jié)、測(cè)量時(shí)間長(zhǎng),因而相應(yīng)出現(xiàn)了自動(dòng)平衡電橋法,其適用于寬頻率、寬阻抗范圍測(cè)量,但卻不適應(yīng)于高頻測(cè)量,其測(cè)量頻率范圍為20—110MHz,測(cè)量頻率低,對(duì)于100MHz至3GHz的測(cè)量,射頻I-V法有較好的測(cè)量的能力,對(duì)于3GHz及更高的頻率,則較多采用網(wǎng)絡(luò)分析法。
應(yīng)用網(wǎng)絡(luò)分析法的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀通過(guò)測(cè)量反射系數(shù)Γx根據(jù)公式Γx=(Zx-Zo)/(Zx+Zo)求阻抗Zx(Zo一般為50歐姆),如反射系數(shù)Γx隨阻抗變化的曲線,由可知Γx隨測(cè)量阻抗變化是非線性關(guān)系,當(dāng)測(cè)量阻抗接近50歐姆時(shí)線性*好,當(dāng)測(cè)量阻抗遠(yuǎn)離50歐姆時(shí)線性度變差,此時(shí)當(dāng)阻抗值變化很大時(shí),反射系數(shù)可能變化很小,影響測(cè)量精度。因此矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀只能對(duì)接近其自身特性阻抗(通常50歐姆)的阻抗進(jìn)行**測(cè)量,存在測(cè)量誤差大、測(cè)量阻抗范圍較窄的缺點(diǎn)。因此提供的LCR阻抗測(cè)試儀解決了上述問(wèn)題。
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